このサイトではJavaScriptを使用しています。ブラウザの設定でJavaScriptを有効にしてからお使いください。 官能評価の統計解析(前提知識)【テックデザイン官能評価シリーズ】 [講習会詳細] | テックデザイン
 
 

 

オンデマンド
官能評価の統計解析(前提知識)【テックデザイン官能評価シリーズ】

 

【詳細】  https://tech-d.jp/column/tdo2020101601/
【会 場】

各自PC(オンライン受講)

【受講料】

5,000円(税込/テキスト付)電子データのみ

オンデマンド アカウント発行から14日間受講可能

1.官能評価データの特徴

2.記述統計学

 (1)度数分布

 (2)代表値

  1)平均値

  2)中央値

  3)最頻値

 (3)散布度・分布の偏り

  1)分散

  2)標準偏差

  3)四分位偏差

  4)歪度

  5)尖度

 (4)正規分布

3.推測統計学

 (1)検定

  1)帰無仮説と対立仮説

  2)第1種の誤りと第2種の誤り

  3)検定力

  4)片側検定と両側検定

  5)主な官能評価手法と解析法

 (2)推定

  1)標本分布と母数の推定

  2)信頼区間

概要:官能評価のデータは、適切な統計解析がなされて、はじめて利用可能なものとなります。統計解析には、記述統計学と推測統計学とがあり、いずれも得られたデータを理解する上で、なくてはならないものです。本講習では、官能評価のデータを統計解析する際に前提となるこれらの基礎知識について解説し、エクセルによる解析例を交えた講習を通して、官能評価に必要な基本的な知識を身につけていただくことを目指しています。



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