このサイトではJavaScriptを使用しています。ブラウザの設定でJavaScriptを有効にしてからお使いください。 電子機器の寿命予測と耐久試験方法 [講習会詳細] | テックデザイン
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信頼性試験でのサンプルサイズと試験条件・試験時間の関係などを説明し、“どのくらい使ったら、どのくらいの割合で故障が起こるのか”“故障を目標値まで低減するためにはどうするか”などが提案(理解)できるようになることを目指します。

電子機器の寿命予測と耐久試験方法

~市場トラブルの理解,信頼性試験法・ワイブル分布の基礎,寿命予測の実際~

【日 程】

2019年4月10日(水) 10:00~17:00

【会 場】

テックデザイン会議室(サガフラット2階)(東京 門前仲町駅)

【受講料】

29,980円(税込/テキスト付)

 

講師: M.A信頼性技術オフィス 代表 本山 晃

経歴: 1977年 松下電工㈱入社(2003年よりパナソニック㈱)。研究所等で、電子部品・電子回路の信頼性評価と寿命末期の安全性評価に関する業務に長年従事。2014年 同社を退社し、翌年、M.A信頼性技術オフィスを設立。電子機器・部品の信頼性技術に関するコンサルタントを展開。最近では、高速鉄道用制御回路・航空機制御回路の寿命予測やロケット制御回路用モジュール選定法といった業務に取組む。

Ⅰ. 電子機器・部品の市場トラブルの現状
 1. 市場の使用環境でトラブルを少なくするための信頼性試験
 2. 品質トラブルの原因
 3. 品質トラブルへの対応の考え方

Ⅱ. 電子機器・部品を評価する時に用いる信頼性の考え方
 1. 信頼性とは
 2. 信頼性用語の定義
 3. 市場での故障数と故障時間の関係

Ⅲ. 電子機器・部品の初期故障・偶発故障を見極めるための信頼性試験
 1. 初期故障を低減するための試験の考え方
 2. 信頼水準を適用して偶発故障を見極める試験の考え方

Ⅳ. 電子機器・部品の寿命予測に用いる信頼性理論
 1. 寿命予測に用いるいろいろな信頼性試験と加速モデル
 2. 使用環境の温度が高くなると故障時間が短くなるアレニウスモデル
 3. 使用環境の温度や湿度が高くなると故障時間が短くなるアイリングモデル 
 4. 使用環境温度と温度差がはんだ接続部の耐用寿命に影響する修正コフィン・マンソンモデル        

Ⅴ. 加速試験による市場での寿命予測の実際
 1. 実際の寿命予測のステップ
 2. 加速試験による市場での寿命推定事例

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<習得知識>
1. 電子機器の市場トラブルがどのようにして発生しているのかを理解
2. 市場の使用環境でトラブルを少なくするための信頼性試験法の基礎知識
3. 特に耐用寿命を推定するための故障分布(ワイブル分布)の基礎知識
4. 市場環境で使用した自社製品が、5年や10年で故障する割合の推定法


<講義概要>
近年電子回路応用商品には小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細個加工した部品や超薄型部品が搭載されています。一方、小型化による微細加工や薄い素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため市場でのトラブル増加が懸念されます。そこで、これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされています。ところが、リコール情報をみると、電子機器の市場トラブルはゼロになっているわけではありません。
本講座では、これらのトラブルを少しでも少なくするための信頼性の基礎知識から信頼性試験の考え方、特にサンプルサイズと試験条件・試験時間の関係を紹介します。具体的には、市場トラブルがなぜ発生するのかその対応の仕方を紹介し、市場の故障は時間経過によってどのように変化していくかを解説します。次に、故障時間を早く知るための加速試験法を説明していきます。その結果、自社生産の電子機器が市場の使用環境でいつ(どのくらい使ったら)、どのくらいの割合で故障が起こるのか予測でき、その故障を目標値まで低減するための施策を提案できるようになります。


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